CONTRIBUTION A LA MODELISATION DES TBH Si/SiGe EN TEMPERATURE: CONTRIBUTION A LA MODELISATION DES TRANSISTORS BIPOLAIRES A HETEROJONCTION Si/SiGe EN TEMPERATURE PDF

Plusieurs études ont trouvé une relation forte entre la déficience neurocognitive et le faible fonctionnement dans le trouble bipolaire, comme précédemment rapporté dans d’autres maladies telles que la schizophrénie.


La prise en compte de l’effet de la température et en particulier de l’auto-échauffement est un aspect fondamental pour rendre compte de manière précise des caractéristiques électriques des transistors bipolaires à hétérojonction Si/SiGe. L’utilisation de ces composants dans des applications micro-ondes susceptibles d’être exposées à différentes températures et fonctionnant pour des fortes densités de courant accentuent énormément ces effets. Par conséquent, une modélisation précise de ces phénomènes est indispensable. Un modèle dynamique décrivant l’auto-échauffement, caractérisé par une élévation de la température de jonction, a été développé. Une équivalence électrique de ce modèle analytique a été réalisée afin qu’il soit compatible avec des modèles électriques de type SPICE. Un banc de test spécifique pour évaluer le nouveau modèle et extraire ses paramètres a été mis en œuvre. Dans une deuxième partie, la dépendance en température des différents paramètres qui peuvent intervenir dans un modèle électrique compact et en particulier dans le modèle HICUM a été étudiée.

Corrections vibrationnelles aux distances internucléaires et amplitudes moyennes. Le bruit d’entrée référé pour les SFCT à canal n est présenté et discuté. Les moi? Canismes d’interaction mode? Lise? S agir l’interaction porteur-phonon, l’ionisation par.-}